日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統

產品簡介：

日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統-成都藤田科技提供
特點：采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量，對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm）光學系統降低了...

產品型號：

更新時間：2025-02-22

廠商性質：代理商

訪問量：485

服務熱線

19938139269（馬經理）

立即咨詢

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

產品介紹

日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統-成都藤田科技提供

產品信息

特殊長度

● 支持長達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量

● 還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量

● 可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布，并通過球帶系數法獲得總光譜通量、總光通量、色度、色溫等。

● 采用新型檢測器，可進行寬動態范圍測量與 IESNA LM-75 兼容

● GP-2000 兼容 Type B 和 Type C

● 支持紫外和近紅外區域的配光測量

● 可提供發光強度標準燈泡（JCSS）

評價項目

發光強度角分布（配光）

光譜輻射通量（光譜）

飽和度坐標 (u', v') [JIS Z8781-5]

飽和度坐標 (x, y) [JIS Z 8724]

顯色指數（Ra、R1 至 R15）[JIS Z 8726]

相關色溫和 Duv [JIS Z 8725]

主波長（Dominant）和刺激純度（Purity）[JIS Z8781-3]

IES（符合 LM63-2002 和 JIS Z8105-5）文件　

* 1 IES分析軟件[大冢電子制造]也可以讀取和分析其他公司的光分布測量設備計算出的IES文件。

模型	GP-500 ^*1	GP-1100 ^*1	GP-2000
光學系統^*2	2軸測角儀
	θφ坐標系	θφ坐標系	αβ坐標系/θφ坐標系
光路長度	500 毫米或更小	500-1500mm	1500 毫米或更多
對應樣品	LED芯片	通用照明	一般照明，包括直管燈
		模塊
探測器	多通道光譜儀
測量波長范圍 ^*3	220nm-2500nm
評價項目	光強度的角度分布（光分布）光譜輻射通量（spectrum）色度坐標（u'，v'）[JIS Z8781-5] 色度坐標（x，y）[JIS Z 8724] ·主要波長（Dominant）和刺激純度（Purity）[JIS Z8781-3] ·相關色溫和Duv[JIS Z 8725] ·色彩性能評價數（Ra，R1至R15）[JIS Z 8726] ·IES（LM63-2002）和 JIS Z 8105-5 兼容）

* 1 可以進行光譜輻射的光分布測量 * 2 兼容IESNA LM-75 * 3 可以選擇檢測器的波長范圍
* 4 IES 分析軟件[大冢電子制造] 由另一家公司的光分布測量設備計算。IES 文件可以閱讀和分析

配光測量方法中的坐標系類型（JIS C 8105-5）

日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統

日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統

核心特點：

超大基板全覆蓋：專為下一代尺寸玻璃基板設計（支持超長/超寬規格），可高效測量LCD、TFT、有機EL等大型面板，兼容PI、ITO、SiN、介電層等復雜膜層結構。
納米級精度與秒級速度：采用分光干涉+AI算法技術，單點測量時間＜1秒，膜厚精度±0.1nm，光學常數（n/k）解析＜0.5%，滿足量產級質量控制需求。
全場景適配性：從研發實驗室到自動化產線，支持在線（inline）集成，可定制XYZ多軸平臺，實現基板全域厚度分布映射與缺陷快速篩查。
高速量產優化：每小時可檢測超3000點，支持多探頭并行測量，大幅提升玻璃基板（如G8/G10）產線效率，降低設備綜合成本（CoO）。
超薄與超厚膜通吃：量程覆蓋1nm至200μm，適用于OC（光學膠）、Resist（光刻膠）等軟膜與硬質涂層的精準厚度控制。
低維護：非接觸式測量設計，無探針損耗，長期使用穩定性達99.8%，搭配遠程診斷功能，減少停機風險。